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EMMC高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱可針對(duì)NAND Flash、UFS芯片進(jìn)行高速、高低溫度范圍的全功能動(dòng)態(tài)老化測(cè)試。針對(duì)集成NAND和Controller的模組芯片(例如
eMMC存儲(chǔ)芯片高低溫老化箱可對(duì)eMMC(EmbeddedMulti Media Card,嵌入式多媒體卡)、SSD(Solid State Disk,固態(tài)硬盤(pán)
eMMC高低溫試驗(yàn)箱是一款專(zhuān)門(mén)針對(duì)eMMC、UFS、eMCP等顆粒存儲(chǔ)芯片進(jìn)行高低溫老化的設(shè)備。設(shè)備采用可程式系統(tǒng)控制,能夠同時(shí)支持大批量芯片同步老化測(cè)試,腔體
整車(chē)濕熱環(huán)境試驗(yàn)室用于模擬自然環(huán)境中的高低溫、濕度變化,對(duì)汽車(chē)及其零部件進(jìn)行耐候性測(cè)試。試驗(yàn)室通過(guò)控制溫度、濕度和氣壓等環(huán)境參數(shù),考察整車(chē)在不同環(huán)境條件下的適應(yīng)
汽車(chē)濕熱循環(huán)實(shí)驗(yàn)是模擬汽車(chē)工作過(guò)程中,因高濕度環(huán)境導(dǎo)致的溫度交變循環(huán),其實(shí)驗(yàn)機(jī)理是濕熱的腐蝕作用,濕熱環(huán)境還會(huì)對(duì)材料的機(jī)械性能和化學(xué)性能產(chǎn)生影響,如體積膨脹、機(jī)
隨著汽車(chē)產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展,汽車(chē)常作為露天行駛的交通工具,在制造生產(chǎn)汽車(chē)時(shí),常常需要測(cè)試環(huán)境條件,例如高溫、低溫、濕度等,通過(guò)環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn),能夠發(fā)現(xiàn)汽車(chē)設(shè)計(jì)中存在
溫濕度控制低氣壓真空試驗(yàn)箱是用于材料或設(shè)備進(jìn)行低氣壓高低溫試驗(yàn)的試驗(yàn)箱,對(duì)要檢測(cè)的對(duì)材料或設(shè)備在一定溫度下的性能進(jìn)行檢測(cè),試驗(yàn)箱內(nèi)的溫濕度、壓力進(jìn)行檢測(cè)控制,能
低氣壓高低溫綜合環(huán)境模擬箱適用于產(chǎn)品的高空低氣壓試驗(yàn),溫度/高空(低壓)試驗(yàn)主要目的為模擬類(lèi)似無(wú)壓力控制下的航空運(yùn)輸環(huán)境、航空電子、產(chǎn)品具高壓、馬達(dá)或氣密性考慮