《GB/T 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗 規(guī)程試驗KA鹽霧試驗方法》標準

GB/T 2423.17-2008是中華人民共和國國家標準，標準名稱為“電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗 規(guī)程試驗KA鹽霧試驗方法”。該標準規(guī)定了電工電子產(chǎn)品在鹽霧環(huán)境下的試驗方法和評定標準，以檢測產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的耐受性能。

該標準適用于各種電工電子產(chǎn)品的KA鹽霧試驗。試驗時，將樣品放置在鹽霧試驗箱中，在規(guī)定的試驗時間內(nèi)，通過噴霧方式模擬海洋環(huán)境中的鹽霧腐蝕，檢測樣品的耐受性能。試驗時還要對試驗箱進行溫度、濕度、壓力等環(huán)境參數(shù)的控制和記錄。

一、范圍：
本試驗適用于比較具有相似結構的試樣的抗鹽霧腐蝕的能力。本試驗也適用于評定保護性涂層的質量以及均勻性。
使用時，應考慮以下的限制:
a）本試驗不適合作為通潤的鹽霧腐蝕試驗;
b) 本試驗也不適用于在含鹽大氣中使用的單個試樣的評定。
對于設備以及零部件，低驗Kb提供了更符合實際情況的試驗條件以及單個試樣的評定方法。但如果某些情況下為了確保質量，相關規(guī)范要求個別試樣采用本試驗方法時試樣應當作為整個組件或者設備的組成部分連同實際的保護性設備(箱體、蓋子、外套等)一起進行試驗。

二、試驗設備：
鹽霧試驗機

三、試驗要求（部分）：
1. 根據(jù)相關規(guī)范，試樣應按正常使用狀態(tài)進行試驗。因此，試樣應分為多個批次，每個批次按照一種使用狀態(tài)進行試驗。
試樣之間不應有接觸，也不能與其他金屬部件接觸，因此試樣應安放好以消除部件之間的影響。注:試樣在試驗箱內(nèi)的位置(即試樣表面跟豎直平面的傾斜角)非常重要，位置上非常小的差別可能會導致結果差別比較大，取決于試樣的形狀。

2. 試驗箱的溫度應維持在(35±2)℃。

3. 所有的暴露區(qū)域都應維持鹽霧條件，用面積為80 c㎡的器皿在暴露區(qū)域的任何一點連續(xù)收集至少16 h的霧化沉積溶液，平均每小時收集量應在1.0 mL~2.0 mL之間。至少應采用兩個收集器皿，器皿放置的位置不應受試樣的遮擋，以避免收集到試樣上凝結的溶液，器皿內(nèi)的溶液可用于測試pH值和濃度。

通過按照該標準的要求進行KA鹽霧試驗，可以檢測電工電子產(chǎn)品在海洋環(huán)境下的耐腐蝕性能，評估產(chǎn)品的質量和可靠性，提高產(chǎn)品的抗腐蝕性能和使用壽命，為產(chǎn)品的開發(fā)和應用提供技術支持。