162023-11

常溫BIT測(cè)試?yán)匣?/h4>

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介：常溫BIT測(cè)試?yán)匣袷怯糜诠虘B(tài)硬盤（SSD）常溫讀寫測(cè)試（BurnInTest，BIT）的試驗(yàn)設(shè)備，老化柜可以提供固態(tài)硬盤運(yùn)行所需要的穩(wěn)定溫度，為BIT測(cè)試提供保障。二、滿足標(biāo)準(zhǔn)：YD/...

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152023-11

可程序硬盤高低溫度BIT老化箱的測(cè)試應(yīng)用

固態(tài)硬盤（SSD）在生產(chǎn)過程中，需要進(jìn)行一系列的試驗(yàn)，可程序硬盤高低溫度BIT老化箱在SSD的應(yīng)用中，是屬于溫濕度環(huán)境測(cè)試的一個(gè)重要試驗(yàn)項(xiàng)目，下面是該試驗(yàn)的過程。測(cè)試硬件：環(huán)儀儀器 可程序硬盤高低溫度...

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152023-11

可程式高低溫 SSD BIT老化試驗(yàn)箱

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介：可程式高低溫 SSD BIT老化試驗(yàn)箱可用于SSD固態(tài)硬盤批量性進(jìn)行高/低溫濕度老化測(cè)試，或用于PCB電路板、各類材料、電子產(chǎn)品等進(jìn)行高低溫濕度老化測(cè)試。二、依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：YD/T 3824...

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152023-11

可編程高低溫 SSD BIT老化實(shí)驗(yàn)箱測(cè)試要求

固態(tài)硬盤（SSD）在生產(chǎn)過程中，需要在高低溫環(huán)境下進(jìn)行BIT老化測(cè)試，下面，我們根據(jù)實(shí)際要求，看看測(cè)試是怎么做的。測(cè)試硬件：環(huán)儀儀器 可編程高低溫 SSD BIT老化實(shí)驗(yàn)箱測(cè)試軟件：BurnInTes...

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142023-11

PCIE SSD BIT測(cè)試柜

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介：BIT（Burn-In Test）測(cè)試就是使用BIT軟件對(duì)固態(tài)硬盤進(jìn)行循環(huán)寫入測(cè)試，再放入高溫箱中靜置。PCIE SSD BIT測(cè)試柜可以提供SSD的BIT測(cè)試所需要的高溫老化環(huán)境，目的...

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142023-11

固態(tài)硬盤SSD BIT測(cè)試箱的特點(diǎn)詳解

編輯 | 環(huán)儀儀器固態(tài)硬盤SSD BIT測(cè)試箱主要用于固態(tài)硬盤BIT（Burn-In Test）測(cè)試的試驗(yàn)設(shè)備，固態(tài)硬盤的BIT測(cè)試可以加速芯片老化，做潛在失效分析，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的不足。對(duì)于BIT測(cè)試箱有...

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142023-11

固態(tài)PCIE通道BIT老化柜測(cè)試步驟

固態(tài)硬盤的BIT測(cè)試需要用到BIT老化柜，固態(tài)硬盤如何在BIT老化柜里面做測(cè)試？下面是市面上主流固態(tài)硬盤廠商常用的試驗(yàn)方法，下面我們來看看。固態(tài)硬盤BIT測(cè)試流程：試驗(yàn)設(shè)備：環(huán)儀儀器固態(tài)PCIE通道B...